廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司專(zhuān)業(yè)銷(xiāo)售日本理學(xué)波譜,波譜不限于材料的形狀,應用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡(jiǎn)單介紹
日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長(cháng)X射線(xiàn)熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析,為礦石領(lǐng)域對巖石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。
使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進(jìn)行了分析。
紅框內擴大了的范圍由右圖表示。
可以更精密地指定測量位置。
面掃3描分析結果
微區測繪
測繪數據的測繪視圖統合為以攝像圖和數據(圖、測量數據)來(lái)表示。圖示種類(lèi)有不同模式,可以采用有效的圖示。
各測量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線(xiàn)比較
SQX方法做的定點(diǎn)分析結果
γ-θ樣品臺徹底解決了X射線(xiàn)照射不均以及分光晶體反射強度不均的問(wèn)題,保證樣品在X射線(xiàn)最強、最佳條件下測量。
測角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內。γ-θ平臺分辦率為100μm,實(shí)現了快速精確的點(diǎn)、線(xiàn)、面分析。