珠寶玉石檢測中的X熒光光譜法

當下珠寶玉石行業(yè)， X熒光光譜法是珠寶玉石鑒定的主要手段之一。X射線(xiàn)熒光光譜技術(shù)在樣品的主要成分無(wú)損定量和定性分析上得到廣泛應用，成為貴金屬飾品檢測領(lǐng)域的重要手段。X射線(xiàn)作為一種電磁輻射，波長(cháng)介于紫外線(xiàn)和射線(xiàn)之間，這種電磁輻射波長(cháng)沒(méi)有嚴格的界限，隨著(zhù)探測技術(shù)的發(fā)展，用X射線(xiàn)熒光光譜進(jìn)行定量分析，已經(jīng)成為了元素分析的重要手段。X熒光光譜法在當今珠寶玉石行業(yè)檢測中得到了廣泛應用，這一方法對寶石不會(huì )造成損傷，同時(shí)也能夠提高檢測效率。使用X射線(xiàn)照射被測物，被測物激發(fā)出不同波長(cháng)的熒光X射線(xiàn)，用儀器對波長(cháng)不同的X射線(xiàn)進(jìn)行接收分離，從而判斷其中的組成元素,對組成元素含量具體分析，檢測出珠寶玉石是否是合成和有無(wú)經(jīng)過(guò)優(yōu)化處理等。X熒光光譜儀利用這一原理進(jìn)行檢測，有能量色散型X熒光光譜儀、波長(cháng)色散型X熒光光譜儀之分。

X熒光光譜法在珠寶玉石檢測中應用廣泛，其主要優(yōu)勢體現在分析速度、檢測對象、分析密度等多方面。X射線(xiàn)在珠寶玉石檢測中不會(huì )對珠寶玉石造成損壞，與其他檢測方式相比具有獨特的優(yōu)勢，同時(shí)也是對檢測質(zhì)量的有效保障。X熒光光譜儀分析速度快，在整個(gè)珠寶玉石檢測上僅僅需要幾分鐘就可以完成對一件珠寶玉石元素含量的檢測，檢測速度極快，在實(shí)際珠寶檢測中體現出明顯的效率優(yōu)勢。X熒光光譜技術(shù)對檢測對象的形狀、形態(tài)等條件沒(méi)有局限性，X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測工作中不會(huì )受寶石形狀、化學(xué)結合狀態(tài)等條件影響，適用性廣泛。X熒光光譜技術(shù)在珠寶玉石檢測中的分析精密度極高，這是電磁輻射在珠寶玉石檢測中的優(yōu)勢，這種物理分析方法對檢測物中元素的化學(xué)性質(zhì)分析有很高的效率，隨著(zhù)現代科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，X熒光光譜技術(shù)在珠寶玉石檢測領(lǐng)域的應用會(huì )在泛度和深度上得到更大發(fā)展。

X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的應用

X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的具體應用主要有相似珠寶玉石鑒別、優(yōu)化處理珠寶玉石鑒別、類(lèi)質(zhì)同象珠寶玉石研究等幾個(gè)方面，同時(shí)在珠寶玉石元素的方面，從實(shí)際檢測數據分析中可以驗證X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測上的可行性，這對解決傳統檢測手段無(wú)法測出一些珠寶玉石中的元素類(lèi)別、含量等問(wèn)題上有很大幫助。

X熒光光譜技術(shù)在珠寶玉石無(wú)損檢測上的高效率體現在相似珠寶玉石的鑒定上，從珠寶玉石的元素組成上對相似珠寶玉石進(jìn)行鑒定和輔助分析。珠寶玉石原料種類(lèi)較多，存在性質(zhì)相似的情況，傳統檢測手段很難有精準的檢測結果，一些原料品種在外觀(guān)形態(tài)上很難區分，內部折射率和密度也極為相似，在傳統檢測手段上存在較大難度，應用X熒光光譜儀進(jìn)行技術(shù)分析，對相似珠寶玉石的內部元素含量進(jìn)行更為精確的分析，從X射線(xiàn)熒光光譜圖中可以很容易區分出來(lái)相似珠寶玉石的不同之處。這一技術(shù)在鑒別紫晶和紫色方柱石等相似類(lèi)型的寶石上有顯著(zhù)的效率優(yōu)勢。

X熒光光譜儀對當今珠寶玉石行業(yè)中優(yōu)化處理技術(shù)下的寶石也有明顯優(yōu)勢，對優(yōu)化處理后的珠寶玉石進(jìn)行技術(shù)分析，鑒別天然寶石和人工合成技術(shù)下的成品，現代優(yōu)化處理技術(shù)下出現的高仿珠寶玉石成品流入珠寶玉石市場(chǎng)，很容易迷惑消費者。因此通過(guò)X熒光光譜儀對優(yōu)化處理技術(shù)產(chǎn)生的人工合成品進(jìn)行鑒別，能夠幫助消費者識別優(yōu)化處理珠寶玉石與天然寶石。珠寶玉石中的紅寶石人工合成制作過(guò)程中采用鉛玻璃填充方法，其效果與天然紅寶石相似性較高，X熒光光譜儀能夠分辨出兩者之間的差異性，人工合成品中明顯的鉛元素在X熒光光譜儀中能夠較容易鑒別出來(lái)與天然紅寶石的細微不同之處。寶石優(yōu)化處理技術(shù)在X熒光光譜儀應用于珠寶玉石檢測后能夠更容易鑒別出來(lái)，同時(shí)X熒光光譜儀在輔助分析、鑒別合成翡翠、珍珠等珠寶玉石方面也有著(zhù)明顯優(yōu)勢。

X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的應用還體現在類(lèi)質(zhì)同象珠寶玉石方面上，類(lèi)質(zhì)同象在珠寶玉石檢測中主要是晶體結構中的離子、原子等結構類(lèi)型上的線(xiàn)性變化現象，在這一現象的檢測研究上確定珠寶玉石中類(lèi)質(zhì)同象系列的名稱(chēng)，能夠有效提升珠寶玉石檢測的效率和質(zhì)量，這一過(guò)程中X熒光光譜儀的應用有著(zhù)重要作用，珠寶玉石中的元素分析和含量統計分析為類(lèi)質(zhì)同象珠寶玉石的準確性檢測體提供了有效的數據幫助。X熒光光譜儀隨著(zhù)X射線(xiàn)熒光光譜技術(shù)的發(fā)展不斷發(fā)展完善，在珠寶玉石鑒定領(lǐng)域依靠技術(shù)手段提高檢測的效率，不僅適用于以上幾種珠寶玉石檢測情況，隨著(zhù)未來(lái)科學(xué)技術(shù)水平的不斷提高，珠寶玉石行業(yè)的發(fā)展也會(huì )不斷出現新的發(fā)展方向。

1.高度可靠性的上照射式光學(xué)系統
ZSX Primus IV具有場(chǎng)新的上照射式光學(xué)配置。用戶(hù)再也不用擔心由于維護樣品室導致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結構消除了清掃的擔心并增加了時(shí)間。

2.高精度樣品定位
高精度樣品定位確保了樣品表面與X設吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常重要。ZSX Primus IV使用一個(gè)獨特的光學(xué)配置執行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導致的錯誤。

3.SQX 基本參數軟件與EZ掃描軟件

用戶(hù)使用EZ掃描軟件可以在無(wú)需任何事先設置即可分析位置樣品。這個(gè)節省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標和輸入樣品名稱(chēng)。結合SQX基本參數軟件，快速提供最準確的XRF結果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線(xiàn)重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過(guò)光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提高準確性。