X熒光光譜儀與火花直讀光譜儀的區別和聯(lián)系

分析原理：

X熒光光譜分析儀是利用高能量的X光，打擊試樣，使試樣中被測元素的內層電子被激發(fā)打走，次內層電子回落到內層，同時(shí)產(chǎn)生一個(gè)光子，這個(gè)光子具有特定的頻率，與其他原子同樣條件下產(chǎn)生的光子不同，儀器再經(jīng)過(guò)光柵色散，把這一種元素產(chǎn)生的單色光分離出來(lái)，再利用一個(gè)光電管，把這一種光信號轉變?yōu)殡娦盘?，這個(gè)電信號與試樣中被測物質(zhì)的含量成一定的比例關(guān)系。但是這樣并不能獲得試樣中被測物質(zhì)的含量，還必須與標準試樣在同樣條件下獲得的電信號進(jìn)行比較才能獲得試樣中被測物質(zhì)的百分含量。

熒光光譜儀原理，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí)，驅逐一個(gè)內層電子而出現一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為（10）-12-（10）-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)，這個(gè)過(guò)程稱(chēng)為馳豫過(guò)程。馳豫過(guò)程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，所釋放的能量隨及在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級光電子，此稱(chēng)為俄歇效應，亦稱(chēng)次級光電效應或無(wú)輻射效應，所逐出的次級光電子稱(chēng)為俄歇電子。

熒光光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn)

儀器是由計算機控制，自動(dòng)化水平高，分析速度快，它不需要像火花直讀光譜那樣需要試樣具有導電性，所以可以完成非金屬試樣的分析，它可以同時(shí)完成多個(gè)被測元素或被測組分的百分含量，如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同時(shí)完成。多數用戶(hù)的X熒光光譜分析儀只是專(zhuān)門(mén)用來(lái)分析精礦粉、石灰、青石、白云石、爐渣、溶劑等不導電的試樣。同時(shí)它也可以進(jìn)行金屬材料等導電試樣的分析。其他特點(diǎn)與直讀光譜相同。

X射線(xiàn)熒光直讀光譜儀可以分析粉末樣品、熔融樣品、液體樣品、固體樣品等，非金屬或金屬都可以分析。

火花直讀光譜儀只能分析固體樣品，而且要求樣品是導電介質(zhì)，簡(jiǎn)單的說(shuō)就是分析金屬固體樣品中的金屬或非金屬元素。

（日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀）

最后說(shuō)說(shuō)它們的精度（分析正確度）

除了ICP以外，直讀光譜和X熒光都依靠標準樣品的質(zhì)量。如果，不能準備完全的標準樣品，不可能得到標準偏差。標準樣品是當然一定要沒(méi)有偏析，正確的標準值。