隨著(zhù)國內黃金交易市場(chǎng)的全面開(kāi)放，無(wú)損驗貨接踵而來(lái)。本文從貴金屬首飾無(wú)損檢測應用x熒光分析技術(shù)的角度，提出一些避免誤區的觀(guān)點(diǎn)。

一、 x射線(xiàn)熒光分析基本原理

所謂熒光，就是在光的照射下發(fā)出的光。x射線(xiàn)熒光就是被分析樣品在x射線(xiàn)照射下發(fā)出的x射線(xiàn)，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過(guò)對上述x射線(xiàn)熒光的分析，確定被測樣品中各組份含量的儀器就是x射線(xiàn)熒光分析儀。用x射線(xiàn)熒光分析儀測量貴金屬首飾含量是一種不接觸、非破壞的測試方法。這種方法是將一束初級x射線(xiàn)照射被分析的樣品，使樣品中的每種元素的原子都發(fā)射出各自特征的x射線(xiàn)熒光。于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的x射線(xiàn)的能量也是特定的，稱(chēng)之為特征x射線(xiàn)。通過(guò)測定特征x射線(xiàn)的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征x射線(xiàn)的強弱(或者說(shuō)x射線(xiàn)光子多少)則代表該元素的含量。

二、x射線(xiàn)熒光分析儀的分類(lèi)

1.根據分光方式的不同，x射線(xiàn)熒光分析可分為能量色散和波長(cháng)色散兩類(lèi)，也就是通常所說(shuō)的能譜儀和波譜儀。通過(guò)測定熒光x射線(xiàn)的能量實(shí)現對被測樣品分析的方式稱(chēng)之為能量色散x射線(xiàn)熒光分析，相應的儀器稱(chēng)之為能譜儀，通過(guò)測定熒光x射線(xiàn)的波長(cháng)實(shí)現對被測樣品分析的方式稱(chēng)之為波長(cháng)色散x射線(xiàn)熒光分析，相應的儀器稱(chēng)之為X射線(xiàn)熒光光譜儀。

2.根據激發(fā)方式的不同，x射線(xiàn)熒光分析可分為源激發(fā)和管激發(fā)兩種：用放射性同位素源發(fā)出的x射線(xiàn)作為原級x射線(xiàn)的x射線(xiàn)熒光分析儀稱(chēng)為源激發(fā)儀器，其特點(diǎn)是體積較小、結構簡(jiǎn)單，價(jià)格低廉；用x射線(xiàn)發(fā)生器(又稱(chēng)x光管)產(chǎn)生原級x射線(xiàn)的x射線(xiàn)熒光分析儀稱(chēng)為管激發(fā)儀器，特點(diǎn)是體積較大、輸出強度高且可調，價(jià)格也較昂貴。以上我們介紹了x射線(xiàn)熒光分析儀的基本原理及其主要類(lèi)型，下面我們著(zhù)重闡述一下用x射線(xiàn)熒光分析技術(shù)無(wú)損檢測貴金屬首飾含量所應注意避免的誤區。

誤區1：強調“熒光”

過(guò)分迷信依賴(lài)大型儀器。許多用戶(hù)錯誤地認為只有用x光管作為激發(fā)源的管激發(fā)儀器才是x熒光儀，一味地強調所謂“熒光”。事實(shí)上，如前所述，無(wú)論是采用x光管還是采用放射性同位素作為激發(fā)源，只要是由x射線(xiàn)激發(fā)，通過(guò)測定被測樣品發(fā)出的熒光x射線(xiàn)得出其化學(xué)成分及含量的儀器，都是x熒光分析儀。

誤區2：重硬件輕軟件和技術(shù)

任何一種分析儀器在某一領(lǐng)域的成功應用都是硬件、軟件和分析技術(shù)有機結合的結果，三者缺一不可。毫無(wú)疑問(wèn)，硬件是基礎，但硬件并不能決定一切。從應用的角度來(lái)講，硬件只有通過(guò)軟件才能充分發(fā)揮作用，而分析技術(shù)涉及儀器應用的每一個(gè)環(huán)節。

誤區3：重價(jià)格輕服務(wù)

價(jià)格當然是選購商品的重要因素，但不應當是決定性因素。分析儀器各部件質(zhì)量及其價(jià)格懸殊極大，并且直接決定了儀器的售價(jià)，單純追求價(jià)格便宜，很難保證質(zhì)量。對于x熒光分析儀這樣的設備來(lái)說(shuō)，服務(wù)往往更為重要。這里所說(shuō)的服務(wù)不僅指安裝調試備品備件供應維修服務(wù)等，更為重要的是應用技術(shù)服務(wù)。

誤區4：片面追求準確度忽視精密度

不重視穩定性和重現性。準確性固然重要，精密度也決不可忽視，首先要關(guān)注的是精密度問(wèn)題，也就是說(shuō)，同一樣品多次測量，其結果應有良好的一致性，每一測量結果與均值的差要足夠小，至于測量值與真值的差，往往屬于系統誤差，是可以進(jìn)行數學(xué)校正的。

此外，還應重視儀器的穩定性和重現性。所謂穩定性是指同一樣品連續測量多次(通常為21次)的標準偏差；而重現性則是同一樣品間隔較長(cháng)時(shí)間后再次測量的結果間的一致性。這兩項指標也是x射線(xiàn)熒光分析儀器的重要指標，我們常說(shuō)的準確測量必須是建立在穩定性和重復性基礎之上的。

誤區5：分析時(shí)間越短越好

X射線(xiàn)測量是隨機事件的統計測量，是由統計規律決定的，計數的絕對量取決于測量時(shí)間，并直接決定著(zhù)測量誤差的大小，足夠長(cháng)的測量時(shí)間是測量精度的前提條件，為了保證測量精度，必須有足夠的測量時(shí)間以及足夠的計數率。