日本理學(xué)波長(cháng)色散性x射線(xiàn)熒光光譜儀(WD-XRF ，簡(jiǎn)稱(chēng)理學(xué)波譜)一般由光源(X-射線(xiàn)管)、樣品室、分光晶體和檢測系統等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在 -一個(gè)精密的測角儀上，還需要龐大而精密并復雜的機械運動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強度的損失，要求作為光源的X射線(xiàn)管的功率要大，一般為2~3千瓦。但 X射線(xiàn)管的效率極低，只有1%的電功率轉化為X射線(xiàn)輻射功率，大部分電能均轉化為熱能產(chǎn)生高溫，所以 X射線(xiàn)管需要專(zhuān)門(mén)的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此 波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。

能量色散型熒光光譜儀(DE-XRF)，一般由光源(X-射線(xiàn)管)、樣品室和檢測系統等組成，與波長(cháng)色散型熒光光儀的區別在于它不用分光晶體。由于這一特點(diǎn)，使能量色散型熒光光儀具有以下的優(yōu)點(diǎn)  ：

1、儀器結構簡(jiǎn)單，省略了晶體的精密運動(dòng)裝置，也無(wú)需精確調整。還避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源使用的X射線(xiàn)管功率低，一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統，空氣冷卻即可，節省電力。

2、能量色散形熒光光儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近，X射線(xiàn)的利用率很高，不需光學(xué)聚集，在累積整個(gè)光譜時(shí)，對樣品位置變化不象波長(cháng)色散型熒光光儀那樣敏感，對樣品形狀也無(wú)特殊要求。

3、在能量色散譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X射線(xiàn)光子同時(shí)進(jìn)入檢測器，這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時(shí)累積和顯示全部能譜(包括背景 )的基礎，也能清楚地表明背景和干擾線(xiàn)。因此，半導體檢測器X射線(xiàn)光譜儀能比晶體X射線(xiàn)光譜儀快而方便地完成定性分析工作。

4、能量色散法的一個(gè)附帶優(yōu)點(diǎn)是測量整個(gè)分析線(xiàn)脈沖高度分布的積分程度，而不是峰頂強度。因此，減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線(xiàn)波長(cháng)的漂移影響。由于同時(shí)累積還減小了儀器的漂移影響，提高凈計數的統計精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀(guān)察和測量所有元素，而不是按特定譜線(xiàn)分析特定元素。因此，減小了偶然錯誤判斷某元素的可能性。

看了以上四大特點(diǎn)的介紹是否已經(jīng)對日本理學(xué)X射線(xiàn)熒光光譜儀有了一定的了解。