X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 鍍層測厚儀，具有多種選擇，可容納多種類(lèi)型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的涂層，適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析。

X-Strata920 的優(yōu)勢在于其多功能性。您可以從多種配置中進(jìn)行選擇，包括五種基本配置以適應不同尺寸的樣品、六種準直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快測量過(guò)程同時(shí)保持準確性的附加自動(dòng)化功能。X-Strata920 易于使用，軟件直觀(guān)，可由非專(zhuān)業(yè)人員操作，并可輕松融入您的生產(chǎn)或質(zhì)量保證部門(mén)。

最大化精度，最小化浪費

當決定產(chǎn)品成敗的差異小于1微米時(shí)，請選擇X-Strata920進(jìn)行精確鍍層分析

如果您在電子產(chǎn)品或金屬表面處理行業(yè)工作，我們可提供適于您業(yè)務(wù)的解決方案。X-Strata920具有多種配置選擇，可分析單鍍層和多鍍層（包括合金層）。

我們的內部專(zhuān)家會(huì )對常規和復雜鍍層結構進(jìn)行測試及測量，確保您獲得可靠、可重復結果以滿(mǎn)足數百種應用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫性等。

X-Stata920提供四種基臺配置以適應任意形狀的零件。帶有標準或寬固定基臺的開(kāi)槽的樣品艙適合處理小型零件或長(cháng)而薄的樣品，而加深樣品艙則可靈活測量較高的零件。選擇程控樣品臺，可自動(dòng)測量多個(gè)樣品或單個(gè)組件上的各個(gè)位置。

為工作選擇正確的工具

通過(guò)選擇比例計數器或硅漂移探測器（SDD），可確保擁有正確配置。

比例計數器適用于大多數應用場(chǎng)合，但對于含有少量種類(lèi)元素的簡(jiǎn)單鍍層結構而言，其效果最佳。當您需要分析更復雜的鍍層結構或需要測量非常薄的鍍層（<0.05μm）時(shí)，推薦使用SDD。

X-Strata920 這一出色的工具可確保樣品符合規格，同時(shí)通過(guò)避免過(guò)度電鍍造成的化學(xué)品浪費和減少電鍍不足造成的廢料和返工來(lái)降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點(diǎn)對齊，即可開(kāi)始測量。結果在幾秒內即

可顯示出來(lái)，然后操作員可快速執行下一個(gè)任務(wù)。

這意味著(zhù)您可確保在操作中最大限度地提高生產(chǎn)力。得益于通過(guò)可追溯標準打造的優(yōu)化校準方式，您將對結果的準確性充滿(mǎn)信心。

使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)標準，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

X-Strata920 具有多種選項和多功能性，可容納各種樣品，每次都能提供精確的分析。

• 適應性設計，可對各種產(chǎn)品進(jìn)行可靠分析

• 自動(dòng)對焦和可選的程控臺提高了準確性和速度

• 直觀(guān)的 SmartLink 軟件使測量和導出數據變得容易

• 多準直器設計為每個(gè)樣品提供高準確性

• 選擇適合應用的比例計數器或硅漂移檢測器 (SDD)

• 符合行業(yè)規范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987

• 簡(jiǎn)單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內提供結果

• 強大的光學(xué)分析單層和多層鍍層，包括合金層